Produktions-Auswertung von Ebenheiten
Zeitraum: 2010-2023
Für die Halbleiterfertigung wurde ein Auswertungssystem für hochpräzise Ebenheitsmessungen aufgebaut. Die Aufgabe bestand darin, Messdaten aus unterschiedlichen Quellen zusammenzuführen und verlässlich gegen Toleranzkriterien zu bewerten.
Durch strukturierte PASS/FAIL-Auswertung und gut nachvollziehbare Ergebnisdarstellung konnten Rückmeldeschleifen in der Produktion verbessert und Reklamationen reduziert werden. Das System wurde auf dauerhafte Prozessbeobachtung und reproduzierbare Berichte ausgerichtet.
Technologien: Scilab, Produktionsmesstechnik, Datenvisualisierung, Reporterstellung.
Vorschläge für Abbildungen
- Heatmap der Flächenabweichung mit markierten Toleranzgrenzen.
- Zeitlicher Trendplot zentraler Ebenheitskennzahlen je Charge.